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Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II.

Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II.

fabricant:

Susumu

Définition:

Dans le cas de la ligne 4.6NS 1 OHM SMD

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Détails du produit

M. la partie #:

Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II.

Le stock:

35000

Catégorie de produits:

Lignes à retard

Temps de retard:

4,6 ns

Type de montage:

Monture de surface

Température de fonctionnement:

-25°C | 85°C

Statut du produit:

Dépassé

La tolérance:

± 0,050 nS

Description du produit

Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II. PRODUITS CONNEXES

XDL21-6-117

Le nombre d'équipements utilisés est déterminé en fonction de l'échantillon.

Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II.

Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II.

Le système de contrôle de l'équipement doit être conforme à l'annexe II.

Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II.

Les données de référence doivent être fournies à l'autorité compétente de l'État membre dans lequel le véhicule est situé.

Le système d'aérodrome doit être équipé d'un système d'aérodrome.

Le système de contrôle de l'équipement doit être équipé d'un système de contrôle de l'équipement.

Le système d'aérodrome doit être équipé d'un système d'aérodromes de type A.

Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II.

Le système d'aéroglisseur doit être équipé d'un système d'aéroglisseur.

Le système de contrôle de l'équipement doit être conforme à l'annexe II.

Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II.

Le système de contrôle de l'équipement doit être conforme à l'annexe II.

Le système de contrôle de l'équipement doit être conforme à l'annexe II.

Le système d'échantillonnage doit être conforme à l'annexe II.

Le système d'aéroglisseur doit être équipé d'un système d'aéroglisseur.

Le nombre de points de contrôle doit être le même que le nombre de points de contrôle.

Le nombre d'étoiles est déterminé par le nombre d'étoiles de l'échantillon.

Le nombre d'équipements utilisés est déterminé en fonction de l'échantillon.